Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
30. / / - Workshop
Stadthotel Freiburg, Freiburg im Breisgau, 4.-6. März 2018
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Tagungsleitung

Matthias Sauer, Universität Freiburg

Wissenschafliche Tagungsleitung

Daniel Tille, Infineon Technologies AG

Mitglieder des Programmkomitees

  • J. Alt, Intel Mobile Communications GmbH
  • B. Becker, Universität Freiburg
  • R. Drechsler, Universität Bremen und DFKI
  • S. Eggersglüß, Mentor Graphics Development (Deutschland) GmbH
  • P. Engelke, Infineon Technologies AG
  • G. Fey, Technische Universität Hamburg
  • M. Fischer, Advantest GmbH
  • M. Gössel, Universität Potsdam
  • T. Güneysu, Ruhr-Universität Bochum und DFKI
  • S. Hellebrand, Universität Paderborn
  • K. Hoffmann, Technische Universität Darmstadt
  • W. Hoppe, Ehem. Rheinmetall AG
  • F. Hopsch, Fraunhofer IIS EAS Dresden
  • M. Kochte, Universität Stuttgart
  • R. Krenz-Baath, Hochschule Hamm-Lippstadt
  • M. Krstic, IHP GmbH
  • I. Polian, Universität Passau
  • F. Pöhl, Intel Deutschland GmbH
  • S. Sattler, Universität Erlangen-Nürnberg
  • M. Sauer, Universität Freiburg
  • M. Schilinsky, NXP Semiconductors Germany GmbH
  • J. Schlöffel, Mentor Graphics Development (Deutschland) GmbH
  • M. Schölzel (Universität Potsdam und IHP)
  • J. Sepulveda, Technische Universität München
  • M. Tahoori, Karlsruhe Institute of Technology
  • D. Tille, Infineon Technologies AG
  • H. T. Vierhaus, BTU Cottbus
  • M. Wahl, Universität Siegen
  • R. Wagner, Robert Bosch GmbH
  • H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart

Copyrights © 2017, Dr. Matthias Sauer, University of Freiburg