Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
30.

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- Workshop
Stadthotel Freiburg, Freiburg im Breisgau, 4.-6. März 2018

Programm

10:30 - 12:00
Feldberg
Tuniberg

Session 1: DFT

Moderator: Mario Schölzel (IHP GmbH)

ATPG Constraint Analysis for Reducing Regional Power Activity

Harshad Dhotre, Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler, Mehdi Dehbashi and Ulrike Pfannkuchen
University of Bremen, Mentor Graphics, Infineon Technologies AG

Concurrent IJTAG

Rene Krenz-Baath
Hochschule Hamm-Lippstadt

A Codeword-based Compaction Technique for On-Chip Generated Debug Data Using Two-Stage Artificial Neural Networks

Sebastian Huhn, Marcel Merten, Stephan Eggersglüß and Rolf Drechsler
University of Bremen, Mentor Graphics

13:30 - 15:00
Feldberg
Tuniberg

Session 2: Test in der Industrie

Moderator: Jürgen Schlöffel (Mentor Graphics Development (Deutschland) GmbH)

On-Chip Data Reduction during Production Testing of a State-of-the-art LTE Transceiver

Stephan Fuchs
Intel

Optimized Fail Signature Analysis for Automotive eFLASH Memories using Manufacturing Scale Data

Matteo Coppetta, Rudolf Ullmann, Leonardo Caldi, Riccardo Cantoro and Paolo Bernardi
Infineon Technologies, Politecnico di Torino

Automotive supply line robustness incorporating hardware-embedded wavelet transforms

Manuel Harrant, Thomas Nirmaier, Georg Pelz and Bjoern Eversmann
Infineon Technologies

15:00 - 16:00
Batzenberg

Poster Session

Modulare Hochtemperatur-Testplattform bis 300 °C

Björn Bieske, Tom Reinhold and Marco Reinhard
IMMS GmbH

Kombination von on-line und off-line Fehlerbehandlung in dynamisch geplanten Prozessoren

Lukas Schröder, Felix Mühlbauer and Mario Schölzel
University of Potsdam, IHP Frankfurt (Oder)

The Effects of Voltage Scaling on Reliability and Power Consumption in Multiprocessor Systems

Mitko Veleski, Rolf Kraemer and Milos Krstic
BTU Cottbus-Senftenberg, IHP Frankfurt (Oder)

Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest

Alexander Sprenger and Sybille Hellebrand
Universität Paderborn

Ein Ansatz für fehlertolerante Radarmessungen durch den Austausch von Messwerten für hochautomatisiertes Fahren

Markus Ulbricht, Milos Krstic, Mario Schölzel and Rizwan Tariq Syed
IHP Frankfurt (Oder)

Towards the formal verification of security properties of a Network-on-Chip router

Johanna Sepulveda, Damian Aboul-Hassan and Matthias Sauer
Technical University of Munich, University of Freiburg

OnChip Detektion von Störungen auf den Versorgungs- bzw. Signalleitungen in ICs

Timm Ostermann
Johannes Kepler University of Linz

10:15 - 11:45
Feldberg
Tuniberg

Session 3: AMS Test

Moderator: Wolfgang Hoppe (ehem. Rheinmetall)

Double Bisection Algorithm for High Speed Testing of Integrated Hysteresis Comparators

Riccardo Dapretto, Felix Kopp and Reinhard Hainisch
Infineon Technologies Austria AG

Test von HF-Frontends für Navigationsanwendungen - Evaluierung von mehrkanaligen GNSS-Empfängern mit realen Satellitensignalen

Björn Bieske and Kurt Blau
IMMS GmbH, TU Ilmenau

High-Coverage AMS Test Space Optimization by Efficient Parametric Test Vector Generation

Felix Neubauer, Jan Burchard, Pascal Raiola, Jochen Rivoir, Bernd Becker and Matthias Sauer
University of Freiburg, Advantest Europe GmbH

12:00 - 13:00
Feldberg
Tuniberg

Session 4: Security

Moderator: Ilia Polian (Uni Stuttgart)

EGIS NoC: A secure-enhanced interconnection to prevent Architectural Channel Attacks

Cezar Rodolfo Wedig Reinbrecht, Bruno Forlin, Andreas Zankl and Johanna Sepulveda
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (Brasil), Fraunhofer Institute for Applied and Integrated Security, Technical University of Munich

Design of Reconfigurable Scan Networks for Secure Data Transmission

Pascal Raiola, Michael A. Kochte, Ahmed Atteya, Laura Rodríguez Gómez, Hans-Joachim Wunderlich, Bernd Becker and Matthias Sauer
University of Freiburg, University of Stuttgart